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          智能數字化涂鍍層測厚儀minitest740

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          涂鍍層測厚儀minitest740探頭內置外置可換,讓用戶使用更加靈活,涂鍍層測厚儀minitest740更換不同探頭既可測小工件,薄涂層,也可測厚涂層,zui大測量到15mm

          MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測厚儀MiniTest722/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀


          涂鍍層測厚儀minitest740-優點:
          -SIDSP使測量不受干擾,測值更加準確
          -FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
          -溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
          -生產過程中50點校準使儀器獲得高準確度的特征曲線
          -大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數
          -讀數和統計值能單獨調出
          -超大,背光顯示屏,顯示內容可180度旋轉
          -菜單指引操作,25種語言可選
          -帶IrDA接口,紅外線傳輸數據到打印機和PC
          -可下載更新軟件

           

           

          SIDSP技術-*新技術,智能數字化的涂層測厚探頭 
          模擬信號處理時代已成過去,數字信號處理將成為未來的趨勢

          MiniTest 720/730/740涂層測厚儀采用的SIDSP是什么?
          SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發的,世界**的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的**奠定了新標準。SIDSP即探頭內部數字信號處理,這項技術使探頭在測量時,同時在探頭內部將信號*處理為數字形式。SIDSP探頭*依據世界**技術生產。

          MiniTest 720/730/740涂層測厚儀的SIDSP工作原理?
          跟傳統技術不同,SIDSP在探頭頂部產生和控制激發信號,回傳的信號經過32位數字轉換和處理,帶給您準確的涂層厚度值。此項的數字處理技術,同時應用在現代通訊技術(手機網絡)方面,如數字濾波器,基帶轉換,平均值,隨機分析,等等。此項技術能獲得與模擬信號處理*的信號質量和準確度。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置。
          SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優勢,為涂層測厚設定了一個新的標準。

          主機技術參數

          主機型號

          MINITEST 720

          MINITEST 730

          MINITEST 740

          探頭類型

          內置

          外置

          內置外置可換

          數據記憶組數

          10

          10

          100

          存儲數據量

          *多10,000個

          *多10,000個

          *多100,000個

          統計值

          讀值個數、*小值、*大值、平均值、標準方差、變異系數、組統計值(標準設置/自由配置)

          校準程序符合際標準和規范

          ISO、SSPC、瑞典標準、澳大利亞標準

          校準模式

          出廠設置校準、零點校準、兩點校準、三點校準,使用者可調節補償值

          限值監控

          聲、光報警提示超過限

          測量單位

          μm,mm,cm;mils,inch,thou

          操作溫度

          -10℃~60℃

          存放溫度

          -20℃~70℃

          數據接口

          IrDA 1.0(紅外接口)

          電源

          2節AA電池

          標準

          DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
          ASTM B244,B499,D7091,E376
          AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

          體積

          157mm x 75.5mm x 49mm

          重量

          約175g

          約210g

          約175g(內置)/230g(外置)


          探頭

          探頭特性

          F1.5,N07,FN1.5

          F2

          F5,N2.5,FN5

          F15

          F

          N

          F

          F

          N

          F

          測量范圍

          0~1.5mm

          0~0.7mm

          0~2mm

          0~5mm

          0~2.5mm

          0~15mm

          使用范圍

          小工件,薄涂層

          粗糙表面

          標準探頭,使用廣泛

          厚涂層

          測量原理

          磁感應

          電渦流

          磁感應

          磁感應

          電渦流

          磁感應

          信號處理

          探頭內部32位信號處理(SIDSP)

          較準確度

          ±(1μm+0.75%讀值)

          ±(1.5μm+0.75%讀值)

          ±(5μm+0.75%讀值)

          重復性

          ±(0.5μm+0.5%讀值)

          ±(0.8μm+0.5%讀值)

          ±(2.5μm+0.5%讀值)

          低端分辨率

          0.05μm

          0.1μm

          1μm

          *小曲率半徑(凸)

          1.0mm

          1.5mm

          5mm

          *小曲率半徑
          (凹,外置探頭)

          7.5mm

          10mm

          25mm

          *小曲率半徑
          (凹,內置探頭)

          30mm

          30mm

          30mm

          *小測量面積

          Φ5mm

          Φ10mm

          Φ25mm

          *小基體厚度

          0.3mm

          40μm

          0.5mm

          0.5mm

          40μm

          1mm

          連續模式下測量速度

          每秒20個讀數

          單值模式下*大測量速度

          每分鐘70個讀數

           

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