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          MiniTest 4100測厚儀上海現貨代理(主機+探頭)

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          MiniTest 4100測厚儀上海現貨代理(主機+探頭)

          1、參數

          1. 應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)99
          2. 每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,并可設寬容度極限值)99
          3. 可用各自的日期和時間標識特性的組數500
          4. 數據總量10000個
          5. 讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
          6. 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數 

          2、應用

          德國EPK公司MINITEST 4100用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):

          1.  鋼鐵基體上的非磁性覆層
          2. 有色金屬上的絕緣覆層
          3. 絕緣基體上的有色金屬覆層

          3、產品特點:

          • 適用于多種應用的耐磨探頭
          • 具有幾乎無限壽命的耐磨探頭
          • 測量值的存儲與評估
          • 特殊的粗糙表面和校準標定函數未知涂層(CTC方法)
          • 所有的探頭都配備了耐磨桿,確保使用壽命長,也適用于磨料基板。
          • 所有型號均可配所有探頭
          • 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機
          • 可使用一片或二片標準箔校準

          4、探頭

          探頭是涂層測厚儀的核心部件。 為了滿足我們客戶的各種要求,zui常見應用的探頭是我們系列產品的一部分。 對于特殊的測量任務,可提供客戶制造的探頭。
          ElektroPhysik探頭是現代生產技術以及60多年來表面處理技術的結合。

          智能探頭
          ElektroPhysik開發了一種“智能探頭”的概念,如果測量任務改變,允許與連接到相同規格的另一個探頭一起工作。
          探頭的特性曲線存儲在探頭連接器中,并由儀表的微處理器進行評估。 因此可以編程給客戶應用的特性曲線,例如, G。 特殊合金,特殊幾何形狀等。


          外層保護
          為了生產其探頭,ElektroPhysik使用來自鐘表領域的精密生產程序。 為了確保長壽命,探頭通過結構特征進行保護,因此即使在使用多年后也能避免磨損痕跡。 使用材料例如 紅寶石,硬金屬或用于工具制造的特殊合金保護接觸測量桿免受磨損。 測量極的表面被拋光,因此提供甚至在敏感的測量對象上測量,而不留下任何痕跡。

          新開發的通用探頭
          特別是對于在鋼鐵和有色金屬上進行測量的用戶,ElektroPhysik提供新開發的FN通用探頭,它只用一個探頭解決測量任務

                     

                 彎曲表面的磁通線                                粗糙表面的磁通線

          特殊功能
          當在彎曲表面上進行測量時,探針可以通過校準適應待測量物體的幾何形狀。
          因此消除了幾何形狀對測量值的影響。
          當在粗糙表面上進行測量時,MiniTest的特殊功能用于補償由于物理原因導致的較高測量不確定性。
          對于在高溫表面上的測量,可以使用特殊的探頭,其可以短時間用于高達350℃的溫度。

          5、主機技術參數

          MINITEST 存儲的數據量

          應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)99

          10

          每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,并可設寬容度極限值)

          10

          可用各自的日期和時間標識特性的組數

          500

          數據總量

          10000

          MINITEST統計計算功能

          讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

          讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

          組統計值六種x,s,n,max,min,kvar

          組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

          存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據

           

          分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值

          顯示并打印測量值、打印的日期和時間

          其他功能

          設置極限值

          連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別***大***小值

          連續測量模式中測量穩定后顯示讀數

          連續測量模式中顯示***小值

           

           

          6、探頭參數

          所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
          F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
          N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
          FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

           探 頭

          量程

          低端
          分辨率

          誤差

          zui小曲率
          半徑(凸/凹)

          zui小測量
          區域直徑

          zui小基
          體厚度

          探頭尺寸

           磁
           感
           應
           法

           

           

           

           

           

           

           

          F05

          0-500μm

          0.1μm

          ±(1%±0.7μm)

          1/5mm

          3mm

          0.2mm

          φ15x62mm

          F1.6

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          0.5mm

          φ15x62mm

          F1.6/90

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          平面/6mm

          5mm

          0.5mm

          φ8x170mm

          F3

          0-3000μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          0.5mm

          φ15x62mm

          F10

          0-10mm

          5μm

          ±(1%±10μm)

          5/16mm

          20mm

          1mm

          φ25x46mm

          F20

          0-20mm

          10μm

          ±(1%±10μm)

          10/30mm

          40mm

          2mm

          φ40x66mm

          F50

          0-50mm

          10μm

          ±(3%±50μm)

          50/200mm

          300mm

          2mm

          φ45x70mm

           兩      
           用  

           

           

           

          FN1.6

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          F0.5mm
          N50μm

          φ15x62mm

          FN1.6P

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          平面

          30mm

          F0.5mm
          N50μm

          φ21x89mm

          FN2

          0-2000μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          5mm

          F0.5mm
          N50μm

          φ15x62mm

           電
           渦  
           流
           法

           

           

           

           

           

           

           

           

           

          N02

          0-200μm

          0.1μm

          ±(1%±0.5μm)

          1/10mm

          2mm

          50μm

          φ16x70mm

          N.08Cr

          0-80μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          2.5mm

          2mm

          100μm

          φ15x62mm

          N1.6

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          1.5/10mm

          2mm

          50μm

          φ15x62mm

          N1.6/90

          0-1600μm

          0.1μm

          ±(1%±1μm)

          平面/10mm

          5mm

          50μm

          φ13x170mm

          N10

          0-10mm

          10μm

          ±(1%±25μm)

          25/100mm

          50mm

          50μm

          φ60x50mm

          N20

          0-20mm

          10μm

          ±(1%±50μm)

          25/100mm

          70mm

          50μm

          φ65x75mm

          N100

          0-100mm

          100μm

          ±(1%±0.3mm)

          100mm/平面

          200mm

          50μm

          φ126x155mm

          CN02

          10-200μm

          0.2μm

          ±(1%±1μm)

          平面

          7mm

          無限制

          φ17x80mm

          篤摯儀器(上海)有限公司的產品和系統方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造業、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業,用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能,推動著精良制造技術的精益求精。

          注:

          F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
          N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
          CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

           

          :張磊

          :         

          公司地址:上海市浦東新區外高橋保稅區華京路418號

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