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          德國EPK MiniTest 730

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          德國EPK MiniTest 730



           

          標準配置:                                     推薦配件:
          帶塑料手提箱,內(nèi)含:                                                                                  -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
          -MiniTest 720(內(nèi)置探頭)
          --或MiniTest 730(外置探頭)
          --或MiniTest 740主機(不含探頭,有各種探頭可選)
          -校準套裝含校準片和零板
          -操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
          -2節(jié)AA電池
           

          elektrophysik測厚儀德國EPK MiniTest 730涂層測厚儀技術(shù)數(shù)據(jù)表 
          SIDSP探頭


          探頭 
          特性

          F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5

          F2

          F5,N2.5,F(xiàn)N5

          F15

          F

          N

          F

          F

          N

          F

          測量范圍

          0-1.5mm

          0-0.7mm

          0-2mm

          0-5mm

          0-2.5mm

          0-15mm

          使用范圍

          小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用

          粗糙表面

          標準探頭,使用廣泛

          厚涂層

          測量原理

          磁感應

          電渦流

          磁感應

          磁感應

          電渦流

          磁感應

          信號處理

          探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP)

          ±(1μm+0.75%讀值)

          ±(1.5μm+0.75%讀值)

          ±(5μm+0.75%讀值)

          重復性

          ±(0.5μm+0.5%讀值)

          ±(0.8μm+0.5%讀值)

          ±(2.5μm+0.5%讀值)

          低端分辨率

          0.05μm

          0.1μm

          1μm

          zui小曲率半徑(凸)

          1.0mm

          1.5mm

          5mm

          zui小曲率半徑(凹,外置探頭)

          7.5mm

          10mm

          25mm

          zui小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭)

          30mm

          30mm

          30mm

          zui小測量面積

          Φ5mm

          Φ10mm

          Φ25mm

          zui小基體厚度

          0.3mm

          40μm

          0.5mm

          0.5mm

          40μm

          1mm

          連續(xù)模式下測量速度

          每秒20個讀數(shù)

          單值模式下zui大測量速度

          每分鐘70個讀數(shù)

          elektrophysik測厚儀優(yōu)點一覽:

          -SIDSP使測量不受干擾,測值更加
          -可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
          -FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
          -溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
          -生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線
          -大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
          -讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
          -超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
          -菜單指引操作,25種語言可選
          -帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
          -可下載更新軟件


          elektrophysik測厚儀

           

          elektrophysik測厚儀主機


          型號 
          特性

          MiniTest 720

          MiniTest 730

          MiniTest 740

          探頭類型

          內(nèi)置

          外置

          內(nèi)置外置可換

          數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

          10

          10

          100

          存儲數(shù)據(jù)量

          zui多10,000個

          zui多10,000個

          zui多100,000個

          統(tǒng)計值

          讀值個數(shù),zui小值,zui大值,平均值,標準方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標準設置/自由配置)

          校準程序符合標準和規(guī)范

          ISO,SSPC,瑞典標準,澳大利亞標準

          校準模式

          出廠設置校準,零點校準,2點校準,3點校準,使用者可調(diào)節(jié)補償值

          極限值監(jiān)控

          聲、光報警提示超過極限

          測量單位

          um,mm,cm;mils,inch,thou

          操作溫度

          -10℃-60℃

          存放溫度

          -20℃-70℃

          數(shù)據(jù)接口

          IrDA 1.0(紅外接口)

          電源

          2節(jié)AA電池

          標準

          DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
          ASTM B244,B499,D7091,E376
          AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

          體積

          157mm x 75.5mm x 49mm

          重量

          約175g

          約210g

          約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

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