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          測厚儀Mintest 3100膜厚測試儀華東區總代理

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          Mintest 3100膜厚測試儀華東區總代理

          可選探頭
          所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
          F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
          N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
          FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
          文章鏈接:中國化工儀器網 http://www.chem17.com/company_news/Detail/246525.html
          FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

          MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數

            所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
            F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
            N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
            FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

          探頭

          量程

          低端分辨率

          誤差

          zui小曲率半徑

          zui小測量區域直徑

          zui小基體厚度

          探頭尺寸
          (mm)




          F05

          0-500um

          0.1um

          ±(1%±0.7um)

          1/5mm

          3mm

          0.2mm

          φ15x62

          F1.6

          0-1600um

          0.1um

          ±(1%±1um)

          1.5/10mm

          5mm

          0.5mm

          φ15x62

          F1.6/90

          0-1600um

          0.1um

          ±(1%±1um)

          平面/6mm

          5mm

          0.5mm

          φ8x8x170

          F2/90

          0-2000um

          0.2um

          ±(1%±1um)

          平面/6mm

          5mm

          0.5mm

          φ8x8x170

          F3

          0-3000um

          0.2um

          ±(1%±1um)

          1.5/10mm

          5mm

          0.5mm

          φ15x62

          F10

          0-10mm

          5um

          ±(1%±10um)

          5/16mm

          20mm

          1mm

          φ25x46

          F20

          0-20mm

          10um

          ±(1%±10um)

          10/30mm

          40mm

          2mm

          φ40x66

          F50

          0-50mm

          10um

          ±(3%±50um)

          50/200mm

          300mm

          2mm

          φ45x70


          FN1.6

          0-1600um

          0.1um

          ±(1%±1um)

          1.5/10mm

          5mm

          F0.5mm/N50um

          φ15x62

          FN1.6P

          0-1600um

          0.1um

          ±(1%±1um)

          平面

          30mm

          F0.5mm/N50um

          φ21x89

          FN2

          0-2000um

          0.2um

          ±(1%±1um)

          1.5/10mm

          5mm

          F0.5mm/N50um

          φ15x62




          N02

          0-200um

          0.1um

          ±(1%±0.5um)

          1/10mm

          2mm

          50um

          φ16x70

          N.08Cr

          0-80um

          0.1um

          ±(1%±1um)

          2.5mm

          2mm

          100um

          φ15x62

          N1.6

          0-1600um

          0.1um

          ±(1%±1um)

          1.5/10mm

          2mm

          50um

          φ15x62

          N1.6/90

          0-1600um

          0.1um

          ±(1%±1um)

          平面/10mm

          5mm

          50um

          φ13x13x170

          N2

          0-2000um

          0.2um

          ±(1%±1um)

          1.5/10mm

          5mm

          50um

          φ15x62

          N2/90

          0-2000um

          0.2um

          ±(1%±1um)

          平面/10mm

          5mm

          50um

          φ13x13x170

          N10

          0-10mm

          10um

          ±(1%±25um)

          25/100mm

          50mm

          50um

          φ60x50

          N20

          0-20mm

          10um

          ±(1%±50um)

          25/100mm

          70mm

          50um

          φ65x75

          N100

          0-100mm

          100um

          ±(1%±0.3mm)

          100mm/平面

          200mm

          50um

          φ126x155

          CN02

          10-200um

          0.2um

          ±(1%±1um)

          平面

          7mm

          無限制

          φ17x80

           

          注:

          F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
          N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
          CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

           

           

          FN1.6

          0~1600μm,φ5mm
          兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm)

           

          FN1.6P

          0~1600μm,φ30mm
          兩用測頭,特別適合測粉末狀的覆層厚度

           

          FN2

          0~2000μm,φ5mm
          兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層

           

          F05

          0~500μm,φ3mm
          磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
          量程低端分辨宰很高(O.1μm)

           

          F1.6

          0~1600μm,φ5mm
          磁性測頭量程低端分辨率很高(O.1μm)

           

          F3

          0~3000μm,φ5mm
          磁性測頭可用于較厚的覆層

           

          F1.6/90

          0~1600μm,φ5mm
          90度磁性測頭,尤其適合于在管內壁測量量程低端分辨率很高(O.1μm)

           

          F2/90

          0~2000μm,φ5mm
          90度磁性測頭,尤其適合于在管內壁測量

           

          F10

          0~10mm,φ20mm
          適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

           

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