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泰勒霍普森Surtronic S116粗糙度儀參數(shù)信息
更新時間：2025-11-11 點(diǎn)擊次數(shù)：45次
Surtronic S116 支持多達(dá) 30 種粗糙度參數(shù)（包括 Ra、Rz、Rq、Rsk、Rku 等），兼容 ISO 4287/4288、ASME B46.1 等國際規(guī)范，適用于從研發(fā)實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)一線的各類應(yīng)用場景。其高分辨率傳感器具備 0.001 μm 的垂直分辨力，配合長達(dá) 17.5 mm 的測量行程，可精準(zhǔn)捕捉復(fù)雜輪廓細(xì)節(jié)，尤其適合高光潔度或高粗糙度表面的全面評估。
該儀器配備 5 英寸高清彩色觸摸屏，搭載直觀的圖形化操作系統(tǒng)，支持實(shí)時輪廓顯示、參數(shù)對比及趨勢分析。用戶可通過 Wi-Fi 或 USB 快速導(dǎo)出數(shù)據(jù)至 PC 或云端平臺，無縫對接質(zhì)量管理軟件。內(nèi)置 8 GB 存儲空間，可容納數(shù)萬組測量記錄，并支持 PDF 報(bào)告一鍵生成，極大提升工作效率。
