X熒光射線測厚儀XDLM237核心功能：

適用于薄涂層的無損厚度測量和分析，包括低濃度涂層。

可對批量生產的零件和印刷電路板進行自動測量。

能無標準地分析涂層系統以及固體和液體樣品（使用費舍爾基本參數法）。

可同時檢測從氯（17）到鈾（92）范圍內的多達 24 種元素。

X熒光射線測厚儀XDLM237性能優勢：

采用比例計數管實現高計數率，保證測量精確性。

孔徑和初級濾波器可電動更換，能為每次測量創造最佳條件。

具有出色的長期穩定性，顯著減少校準工作。

配備快速、可編程的 X/Y 載物臺，適合自動樣品測量

應用領域

量產零件的測量

檢測具有小測量點的薄涂層

電子和半導體行業中功能涂層的分析

印刷電路板等的自動測量