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菲希爾X-RAY鍍層測厚儀用途：

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM231可用于測量所有金屬鍍層的厚度以及多鍍層或者合金成分分析，也可以進行電解溶液含量成份分析，帶有國家環(huán)保局豁免證書，無放射源設計，安全環(huán)保。菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM231主要用于微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層測量、分析。

菲希爾X-RAY鍍層測厚儀典型的應用領域有：

1、測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件；

2、測量微小區(qū)域上的薄鍍層；

3、測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層；

4、全自動測量，如測量印刷線路板。